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基材的熱膨脹系數(CTE)對電路板導通孔能產生什么影響

電路板打樣制作

上次我們提提到過大基材的熱膨脹系數對pcb層間對位的影響,選擇合適的板材至關重要?;牡臒崤蛎浵禂祵﹄娐钒逯谱鲗椎目煽啃砸灿杏绊?,今天小編和您一起來學習一下:

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基材的熱膨脹系數(CTE)對電路板導通孔可靠性的影響是指基材CTE對高性能多層板厚度方向的導通孔(特別是鍍覆孔)的電氣性能的影響。大家知道,基材的Z向CTE與X、Y方向的CTE是不相同的。X、Y方向的CTE,由于有玻纖布的抑制或束縛,使固化后的基材,其X、Y方向的CTE大多處于13ppm/℃~~17ppm/℃之間。但是在基材的Z向的樹脂沒有受到玻纖布的抑制和束縛,因此Z向的CTE是以樹脂的CTE來決定。

     當溫度超過Tg溫度時,則樹脂的CTE將大于Tg溫度以下的CTE好幾倍。

     在高性能多層板的Z向(厚度方向),由于沒有玻纖布抑制與束縛,熱膨脹大小完全取決于各層固化樹脂的CTE及厚度。同時,這些高性能多層板在熱處理、高溫焊接和運行操作時,受熱會引起Z向膨脹,由于同方向(Z向)的導通孔鍍層銅的CTE為17ppm/℃,比起層間樹脂的Z向CTE要小好幾倍。因此,在受熱時,樹脂熱膨脹便受到導通孔鍍層銅的意志和束縛,也就是說在樹脂與鍍覆銅層表面界面處剪切力(或撕拉力),其大小取決于兩者的CTE和介質層厚度。當導通孔度銅層抵擋不住樹脂膨脹所形成的膨脹力(拉力)時,導通孔度銅層的最薄弱處(貫通孔的拐角或PCB第二層和倒數第二層的拐角處)便會發(fā)生斷裂的可靠性問題。

     高性能多層板導通孔拐角處度銅層斷裂的因素與程度,主要取決于基材內固化樹脂的CTE大小、介質層厚度(各層介質層厚度之和)和導通孔中鍍銅層的延展性與厚度。因此,對于厚度很厚的高性能多層板(特別是母板或背板),除了采用低CTE的樹脂基材外,其導通孔(特別是鍍覆通孔)的鍍銅層應采用精細結構(晶)的高延展性鍍銅,同時比起常規(guī)多層板應有更厚的鍍銅厚度,其最薄處的鍍銅層厚度應大于30mm。但是,對于具有埋/盲孔結構的高性能多層板,其埋孔的上、下兩端受到其它“層”所壓抑和束縛,不會存在拐角處發(fā)生斷裂的潛在危險問題,所以,在一般情況下,其導通孔鍍銅層厚度可小些,大多數控制在15mm左右。至于盲孔的情況,由于一端面是顯露于高多層板的外表面,這一端面仍然會受到拐角斷裂的危險問題,但應視盲孔的深度尺寸或厚度大小情況,一般來說,盲孔的鍍銅層厚度要求應大于埋孔鍍銅層厚度,其最薄處為15mm~~25mm之間。

    基材在高溫狀態(tài)下對電路板導通孔是有影響的,因而在工藝過程的把握就顯得十分重要了。如果您有更多電路板工藝的問題可以咨詢金瑞欣特種電路官網。金瑞欣特種電路是專業(yè)深圳電路板廠家,有著十年電路板打樣制作經驗,產品質量可靠。

 


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