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基于pcb板的射頻聲表陶瓷濾波器封裝技術研究

陶瓷濾波器

目前主流的終端用射頻聲表面波(RF-SAW)陶瓷濾波器均采用基于低溫共燒陶瓷(LTCC)基板的倒裝焊接技術,標準尺寸為單濾波器1.4mm×1.1mm,封裝形式為芯片尺寸級封裝(CSP)。介紹了一種基于印刷電路板(PCB)的CSP封裝聲表面波濾波器,其尺寸達到了1.4mm×1.1mm。使用該基板后,單個器件的材料成本將降低30%以上。通過優(yōu)化基板的結構,可以達到與LiTaO3匹配的熱膨脹系數(shù)(CTE)和較低的吸濕性。經后期的可靠性試驗證明,該結構的射頻陶瓷濾波器可完全滿足工程應用的需求。

陶瓷介質濾波器

引言

隨著各種新的封裝技術的運用,聲表面波(SAW)濾波器的封裝尺寸不斷減?。煌瑫r,由于智能手機的井噴式發(fā)展,射頻聲表面波(RF-SAW)器件的尺寸也不斷縮小,目前的主流產品已達到單濾波器1.4mm×1.1mm,雙工器2.0mm×1.6mm。特別是倒裝焊接技術的引入,摒棄了傳統(tǒng)的點焊線工藝,從而降低了器件的總厚度,也使整個封裝從SMD級別進入了芯片尺寸封裝(CSP)級別。不同廠家對于成本、工藝難度和可靠性等方面的控制水平高低不同,也使不同廠家采用不同的工藝路線。

隨著移動終端市場的不斷擴大,對于RF-SAW濾波器的需求也不斷擴大,巨大的市場帶來的激烈競爭使RF-SAW 濾波器的成本壓力陡增。目前CSP封裝的單濾波器售價已低于8美分,這也使降低成本成為RF-SAW 濾波器批量生產的重要題目。

1 印刷電路板(PCB)基板的材料特性及結構

降低成本需從原材料及工藝難度等方面考慮。采用一種基于雙馬來酰胺三嗪樹脂[1]的印刷電路板進行RF-SAW 器件的生產,具有以下優(yōu)點:

1)PCB板的價格低于陶瓷基板。陶瓷基板需要進行模具的設計和制作,且混料,流延,疊片及沖孔等工藝難度較大,陶瓷又具有收縮性,成品率低,導致陶瓷基板的價格高。PCB板的價格僅為陶瓷基板的1/3,且其工藝成熟,應用廣,是優(yōu)秀的基板

材料。

2)PCB板的研發(fā)成本遠低于陶瓷基板[1]。由于1)中提到的各種原因,陶瓷基板很難進行優(yōu)化改動,一次定型則無法更改。而PCB板因其靈活的布線能力,表面保護層的圖形可定制性,使得針對PCB板的設計具有相當?shù)撵`活性,優(yōu)化改動可很快

實現(xiàn)。模具費用僅為陶瓷基板的1/20。

3)PCB板在工藝上也有很多優(yōu)勢。因其不易碎裂,整個工藝流程中成品率高于陶瓷基板。如切割工序中,陶瓷由于易碎,易發(fā)生整片基板的裂片,嚴重影響成品率。

因此,使用PCB板代替陶瓷基板,是降低成本,快速適應市場需求的選擇。

對于以鉭酸鋰(LiTaO3)等壓電材料為襯底的SAW 器件,要使用CSP封裝流程,必須考慮的一個素是熱膨脹系數(shù),這也是大多數(shù)CSP封裝的RFSAW濾波器使用陶瓷基板的原因。表1為LiTaO3及陶瓷基板的熱膨脹系數(shù)。

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由表1可見,在基板材料與LiTaO3的熱膨脹系數(shù)相差不大時,通過焊球在一定程度上進行柔性連接,可解決因熱膨脹系數(shù)差別過大而導致的熱失配情況,降低失效率。

 

沿著這一思路,在選擇PCB板時,我們特別注意在通用的基板材料中選擇熱膨脹系數(shù)與LiTaO3接近或與陶瓷接近的品種,這樣就可在熱匹配方面做到替代。圖1為CSP封裝用PCB板詳細結構。

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                                                                                      圖1 PCB基板的基本結構

隨著有機材料工業(yè)的不斷發(fā)展,使我們在熱膨脹系數(shù)方面有了很多選擇。根據LiTaO3的特性,參考陶瓷材料的熱膨脹系數(shù)[1],如表2所示。

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                                                                                                表2有機基板材料選擇

2 應用PCB板的射頻聲表濾波器CSP封裝

器件的整體結構與目前主流的CSP結構完全一致,如圖2所示。

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       圖2 使用倒裝焊接工藝的SAW 濾波器標準結構


整個CSP封裝的RF-SAW 濾波器由以下幾部分組成:

1)樹脂膜。一種主要成分為環(huán)氧樹脂的膜,可起到包裹密封的作用。

2)帶球的聲表芯片。芯片上的球可為錫球也可為金球,成球的工藝不同,并對后期的工藝有一些影響。本文中,我們設定此球為金球,采用熱壓超聲的方法植球于芯片的表面。

3)基板。在整個結構中起到物理支撐和電路連接的作用。

RF-SAW 濾波器的CSP封裝基本流程中,晶圓植球和切割不再詳述,這里只針對倒裝焊接開始的流程進行討論,如圖3所示。

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                                                                                     圖3PCB基板倒裝焊器件封裝流程

利用熱壓超聲焊接工藝將植好的金球且切割好的芯片倒裝在有機基板上;樹脂膜通過熱壓的方式壓合在基板上,同時對器件進行包裹封裝;最后在利用砂輪劃片機將器件切割分離,形成最終的產品。通過上面的選擇,我們找到了對應的PCB板作為CSP封裝的基板,在倒裝焊接工藝上,我們也做了倒裝焊接參數(shù)詳細的對比(八焊球,每個焊球直徑80μm),如表3所示。由表可見,陶瓷基板的焊接參數(shù)[2]完全適用于PCB基板,即在焊接工藝上兩種基板的焊接參數(shù)無區(qū)別。圖4為兩種不同基板間芯片剪切力的對比。

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                                                                 表3 倒裝焊接參數(shù)對比

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                                                                 圖4 芯片剪切力測試數(shù)據圖

根據計算,具有8顆焊球的倒裝芯片,其剪切力超過300g(理論計算值),則可判定為合格。所以,陶瓷基板與PCB基板間,在剪切力方面無任何區(qū)別,即PCB基板上的倒裝芯片剪切力稍好。

3?。校茫禄宓模茫樱蟹庋b器件驗證

我們使用同一晶圓上的芯片分別使用陶瓷基板和樹脂基板進行相同的倒裝焊接和貼膜封裝,然后進入測試(見圖5)。RF-SAW 樣品器件中心頻率為1842MHz,帶寬為100MHz,芯片及器件尺寸分別為0.95mm×0.65mm和1.4mm×1.1mm,測試環(huán)境:無匹配測試。

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                                                  圖5?。遥疲樱粒住。茫樱刑沾苫搴蜆渲?/span>


通過對比可確認,在晶圓一致的情況下,使用陶瓷基板和使用PCB基板的器件在性能上接近。圖6為器件測試對比圖。在所有的可靠性測試中,重要的是熱沖擊實驗熱沖擊實驗是將考驗器件在短時間內從極低溫到高溫或從高溫到極低溫時,熱應力積聚和釋放的過程,如果在這些試驗中出現(xiàn)了問題,則表明器件中熱應力積聚過大,器件的機械穩(wěn)定性不好??紤]器件結構,我們參照GJB548A-2006溫度循環(huán)及鑒定

和質量一致性檢驗程序,選擇試驗方法1010A的條件B和200次循環(huán)。針對倒裝焊接的CSP器件來說,此實驗主要考察其內部腔體的膨脹力與焊球拉力的大小,如果器件失效,則表明內部腔體的膨脹力大于焊球的垂直拉力,則器件判為不合格[3]。

穩(wěn)態(tài)濕熱試驗主要考察樹脂封裝器件的耐濕性能,通過高溫、高濕條件可構成水汽吸附、吸收和擴散等作用,驗證PCB基板及其材料在吸濕后膨脹性能滿足度,參照GJB360-96穩(wěn)態(tài)濕熱試驗103方法的條件A。如果發(fā)生吸潮,器件的物理機械性能會有較大變化,器件的幅頻特性會發(fā)生巨大改變[4]。

將使用PCB基板生產的SAW?。茫樱衅骷玻玻常爸贿M行相同的試驗,陶瓷基板的器件均能通過可靠性試驗,詳細情況如表4所示。(即溫度循環(huán)實驗)[2]和穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(即潮熱試驗)[2]。

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                                                                                   圖6 器件測試對比圖

     熱沖擊實驗是將考驗器件在短時間內從極低溫到高溫或從高溫到極低溫時,熱應力積聚和釋放的過程,如果在這些試驗中出現(xiàn)了問題,則表明器件中熱應力積聚過大,器件的機械穩(wěn)定性不好。考慮器件結構,我們參照GJB548A-2006溫度循環(huán)及鑒定
和質量一致性檢驗程序,選擇試驗方法1010A的條件B和200次循環(huán)。針對倒裝焊接的CSP器件來說,此實驗主要考察其內部腔體的膨脹力與焊球拉力的大小,如果器件失效,則表明內部腔體的膨脹力大于焊球的垂直拉力,則器件判為不合格[3]。

     穩(wěn)態(tài)濕熱試驗主要考察樹脂封裝器件的耐濕性能,通過高溫、高濕條件可構成水汽吸附、吸收和擴散等作用,驗證PCB基板及其材料在吸濕后膨脹性能滿足度,參照GJB360-96穩(wěn)態(tài)濕熱試驗103方法的條件A。如果發(fā)生吸潮,器件的物理機械性能會有較大變化,器件的幅頻特性會發(fā)生巨大改變[4]。

      將使用PCB基板生產的SAW?。茫樱衅骷玻玻常爸贿M行相同的試驗,陶瓷基板的器件均能通過可靠性試驗,詳細情況如表4所示。


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                                                                     表4 PCB基板CSP可靠性試驗

      完成可靠性實驗后,我們對器件進行了解剖分析和確認(見圖7),樹脂基板在整個過程中沒有發(fā)生任何變化。最后,所有的器件都通過了測試。

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                                                                     圖7 兩種封裝外殼的解剖分析

4 結束語

一種基于雙馬來酰胺三嗪樹脂BT樹脂的基板pcb板應用于SAW 濾波器的CSP封裝中,從而替代陶瓷基板,在批量生產中將帶來30%以上的成本降低。通過后期的性能測試和可靠性試驗,驗證了該基板能適應RF-SAW?。茫樱蟹庋b的需要。在綜合考慮貼膜封裝等其他工藝參數(shù)的微調后,該多層pcb板能使用在今后的SAW 批量生產中。(參考文獻略來源:射頻百花譚 


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